2022年5月，IEEE微波理论与技术学会（MTT-S）旗舰期刊IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques(IEEE T-MTT)接受了我院一项最新研究成果，硕士研究生王翊民同学为文章第一作者。IEEE T-MTT是国际微波/毫米波领域公认的第一期刊，是国际最具权威和影响力的射频与微波技术领域杰出刊物，专注于与微波/毫米波器件、组件、电路和系统等领域理论和实验研究。论文具有学科交叉特点，应用人工智能方法研究在学术界和产业界广受关注的FinFET晶体管热载流子可靠性问题。文中提出了一种FinFET晶体管热载流子可靠性神经网络模型，模型可预测不同工作环境中不同频率、不同幅度和不同种类信号作用下的自热效应与开启电压漂移。与实验结果相比，开发的模型具有良好的精度。该模型可大幅降低仿真成本，在器件、电路和系统的可靠性设计中具有重要应用价值。